北京半導體實(shí)驗室介紹 北京軟件產(chǎn)品質(zhì)量檢測檢驗中心（簡(jiǎn)稱(chēng)：北軟檢測）成立于2002 年7月，是經(jīng)北京市編辦批準，由北京市科學(xué)技術(shù)和北京市質(zhì)量技術(shù)監督局聯(lián)合成立的事業(yè)單位。2004年1月，質(zhì)量監督檢驗檢疫總局批準在北軟檢測基礎上籌建應用軟件產(chǎn)品質(zhì)量監督檢驗中心（簡(jiǎn)稱(chēng)：國軟檢測），2004年10月國軟檢測通過(guò)驗收并正式獲得授權，成為我國個(gè)級的軟件產(chǎn)品質(zhì)量監督檢驗機構。 中心依據標準 ISO/IEC 17025：2005《檢測和校準實(shí)驗室能力認可準則》和ISO 9001：2015《質(zhì)量管理體系要求》建立了嚴謹的質(zhì)量體系，擁有的軟件測試平臺，2600平方米的測試場(chǎng)地，1000多臺套的測試設備和上百人的測試工程師隊伍。目前具有資質(zhì)認定計量認證（CMA）、資質(zhì)認定授權證書(shū)（CAL）、實(shí)驗室認可證書(shū)（CNAS）、檢驗機構認可證書(shū)（CNAS）、信息安全風(fēng)險評估服務(wù)資質(zhì)認證證書(shū)（CCRC），信息安全等級保護測評機構（DJCP）、ISO 9001：2015質(zhì)量管理體系認證、ISO/IEC 27001：2013信息安全管理體系認證等各種資質(zhì)。 ??智能產(chǎn)品檢測實(shí)驗室，能夠依據、國內和行業(yè)標準實(shí)施檢測工作，開(kāi)展從底層芯片到實(shí)際產(chǎn)品，從物理到邏輯全面的檢測工作，提供芯片預處理、側信道攻擊、光攻擊、侵入式攻擊、環(huán)境、電壓毛刺攻擊、電磁注入、放射線(xiàn)注入、物理安全、邏輯安全、功能、兼容性和多點(diǎn)激光注入等安全檢測服務(wù)，同時(shí)可開(kāi)展模擬重現智能產(chǎn)品失效的現象，找出失效原因的失效分析檢測服務(wù)，主要包括點(diǎn)針工作站（Probe Station）、反應離子刻蝕（RIE）、微漏電偵測系統（EMMI）、X-Ray檢測，缺陷切割觀(guān)察系統（FIB系統）等檢測試驗。實(shí)現對智能產(chǎn)品質(zhì)量的評估及分析，為智能裝備產(chǎn)品的芯片、嵌入式軟件以及應用提供質(zhì)量。