非金屬分析儀是一種用于分析非金屬材料成分、結構和性能的儀器。它可以通過(guò)不同的測試方法和技術(shù)，對非金屬材料進(jìn)行化學(xué)分析、物理性能測試和結構分析等。 常見(jiàn)的非金屬分析儀包括掃描電子顯微鏡(SEM)、能譜儀(EDS)、紅外光譜儀(FTIR)、拉曼光譜儀、熱分析儀(TGA/DSC)等。 這些儀器可以通過(guò)不同的測試方法提供材料的各項性能指標，比如SEM可以觀(guān)察樣品表面形貌和微觀(guān)結構，EDS可以進(jìn)行元素分析，FTIR可以分析材料的化學(xué)成分，拉曼光譜儀可以分析材料的分子結構。

非金屬礦石分析儀是一種用于分析非金屬礦石樣品中元素和化學(xué)組成的儀器設備。它主要通過(guò)光譜分析、電化學(xué)分析、熒光分析、質(zhì)譜分析等技術(shù)手段，對礦石樣品中的元素種類(lèi)和含量進(jìn)行定量或定性分析。 非金屬礦石分析儀通常包括樣品制備設備、光譜儀、電化學(xué)分析儀、質(zhì)譜儀等關(guān)鍵部件。使用時(shí)，將礦石樣品進(jìn)行研磨、破碎和粉末化處理，然后將樣品放入儀器中進(jìn)行分析。根據不同的分析要求，可以選擇不同的分析技術(shù)和儀器。

以下是一些常見(jiàn)的非金屬礦石檢測設備：
X 射線(xiàn)熒光光譜儀（XRF）：
工作原理：當 X 射線(xiàn)照射到礦石樣品時(shí)，會(huì )激發(fā)樣品中元素原子的內層電子，使其躍遷至高能級。當這些高能級電子回落到低能級時(shí)，會(huì )釋放出具有特定能量的特征 X 射線(xiàn)。探測器捕獲這些特征 X 射線(xiàn)并將其轉換成電信號，數據處理系統通過(guò)分析電信號得到礦石樣品中各種元素的含量信息。
特點(diǎn)：可快速同時(shí)分析多種元素，從鈉（Na）到鈾（U）的元素范圍均可檢測，適用于各種形態(tài)的樣品，包括粉末、固體和液體，且無(wú)損檢測，不會(huì )對樣品造成損害。例如，天瑞儀器的 EDX 4500H 型 X 熒光光譜儀，具有數字多道技術(shù)，測試速度快、精度高，能有效分析非金屬礦石中的多種元素。
應用：廣泛應用于礦產(chǎn)勘探、礦石品位分析、選礦過(guò)程控制以及環(huán)境監測等領(lǐng)域，可確定礦石的成分和品位，幫助指導開(kāi)采和加工過(guò)程。